产品简介

MarSurf XCR 20 是 Mahr最顶尖的表面测量设备。       

一次测量即可完成粗糙度和轮廓评估

据测量任务，可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量，或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。

节省空间型设计：两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱

只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件即可快速更换粗糙度和轮廓测量

两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。

使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行高精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和极高的分辨率

可自动跨越沟槽功能；编程后,测针到达直壁沟槽前能自动抬升测针,跨越直壁沟槽后,自动下降到工件表面继续测量，不需手动协助

轮廓测量结果的比对，既可与样件测量结果比较,也可与理论轮廓比较（CAD导入图形）

测针爬升与下降角度大，上升角度为77º,下降角度为88º，能够测量多种大角度复杂形状的零件；

粗糙度技术参数

测量原理：机械式指针接触测量,配有 MFW250,                                                  

测量量程：±25, ±250, ±500 um  

粗糙度轮廓分辨率：                                                    

垂直方向：50 微米量程为0.8纳米；500微米量程为8纳米                                                        

水平方向：0.56 毫米为35 纳米;1.75毫米为100纳米；5.6毫米为350 纳米; 17.5毫米为1微米

分辨率：垂直方向60,000:1；水平方向：16,000:1                                                      

垂直放大率：200,000；水平放大率：100,000                                                      

精度：优于ISO/DIN 标准1级精度(相对误差）